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Effect of Sample Elevation in Radio Frequency Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (RF PECVD) Reactor on Optical Properties and Deposition Rate of Silicon Nitride Thin Films

机译:射频增强等离子体化学气相沉积(RF pECVD)反应器中样品高度对氮化硅薄膜光学性质和沉积速率的影响

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